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金屬表面鍍層測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述:金屬表面鍍層測(cè)厚儀

金屬表面電鍍鍍層測(cè)厚儀是一款精密檢測(cè)設(shè)備,專用于測(cè)量金屬基材上電鍍、涂層等覆蓋層的厚度。它采用磁性法、渦流法或X射線熒光光譜等無損檢測(cè)技術(shù),能快速、精準(zhǔn)獲取鍍層厚度數(shù)據(jù),適用于汽車、電子、五金等行業(yè)。設(shè)備操作簡(jiǎn)便,測(cè)量范圍廣,精度高,可有效監(jiān)控電鍍工藝質(zhì)量,確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)要求。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2025-08-14
  • 訪  問  量:22

詳細(xì)介紹

金屬表面鍍層測(cè)厚儀

金屬表面電鍍鍍層測(cè)厚儀:精準(zhǔn)測(cè)量,保障品質(zhì)

金屬表面電鍍鍍層測(cè)厚儀是一款專業(yè)用于精確測(cè)量金屬基材上電鍍層、涂層等覆蓋層厚度的精密檢測(cè)設(shè)備,在眾多工業(yè)領(lǐng)域發(fā)揮著的作用。


該測(cè)厚儀運(yùn)用了多種*的無損檢測(cè)技術(shù)。磁性法適用于測(cè)量鐵磁性金屬基材上的非磁性鍍層,如鋼鐵上的鋅、銅、鎳鍍層等,通過測(cè)量磁路中磁阻的變化來推算鍍層厚度;渦流法則用于非磁性金屬基材上的導(dǎo)電鍍層測(cè)量,像鋁、銅等基材上的陽極氧化膜、油漆層等,利用電磁感應(yīng)原理,根據(jù)渦流變化確定鍍層厚度;X射線熒光光譜法更是能對(duì)多種金屬鍍層進(jìn)行高精度測(cè)量,通過分析鍍層元素受激發(fā)后產(chǎn)生的特征X射線強(qiáng)度來計(jì)算厚度。

它具備諸多顯著優(yōu)勢(shì)。測(cè)量精度,能達(dá)到微米級(jí)別,可精準(zhǔn)捕捉鍍層厚度的細(xì)微變化,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供可靠數(shù)據(jù)。操作便捷,儀器通常配備直觀的顯示屏和簡(jiǎn)潔的操作界面,即使是非專業(yè)人員也能快速上手。測(cè)量速度快,能在短時(shí)間內(nèi)完成多次測(cè)量并給出平均值,大大提高檢測(cè)效率。

在應(yīng)用領(lǐng)域方面,廣泛應(yīng)用于汽車制造行業(yè),用于檢測(cè)汽車零部件的鍍層厚度,確保其耐腐蝕性和耐磨性;電子行業(yè)對(duì)精密電子元件的鍍層厚度要求嚴(yán)格,該測(cè)厚儀可保證元件性能穩(wěn)定;五金制品行業(yè)也依靠它來監(jiān)控電鍍工藝,提升產(chǎn)品外觀和品質(zhì)。

金屬表面電鍍鍍層測(cè)厚儀以其*的技術(shù)、的性能和廣泛的應(yīng)用,成為保障金屬制品質(zhì)量的重要工具,助力各行業(yè)實(shí)現(xiàn)高品質(zhì)生產(chǎn)。

以下是深圳市天創(chuàng)美科技有限公司銷售的X熒光光譜儀測(cè)試電鍍鍍層的儀器詳細(xì)介紹

鍍層檢測(cè):

常見金屬鍍層有:

 鍍層

 

基體

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

Cu


Zn


Fe

SUS

 

單層厚度范圍:

金鍍層0-8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內(nèi),

可最小測(cè)量達(dá)0.001um。

多層厚度范圍:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

鍍層層數(shù)為1-6層

鍍層精度相對(duì)差值一般<5%。

鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。

鍍層分析優(yōu)勢(shì):分析PCB金手指最小尺寸可達(dá)0.2mm

單層分析精度,以Ni舉例:(相對(duì)差值)

 Ni層厚度(um)

保證精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

元素成分分析:

鍍液分析,目前常見鍍液元素分析有:金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。

ROHS 和無鹵檢測(cè),高性能SDD探測(cè)器可以檢測(cè)無鹵,實(shí)現(xiàn)鍍層與環(huán)保一機(jī)多用。

金屬成分分析,在檢測(cè)ROHS同時(shí)可檢測(cè)金屬中其他各元素成分含量。

檢測(cè)精度:

Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬

檢測(cè)限達(dá)1ppm。

對(duì)這些金屬測(cè)試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達(dá)到下列標(biāo)準(zhǔn):

A. 檢測(cè)含量大于5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取相對(duì)差值小于1%

B. 檢測(cè)含量在0.5~5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取相對(duì)差值小于2%

C. 檢測(cè)含量在0.1~0.5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取相對(duì)差值小于5%

D. 檢測(cè)含量低于0.1%的元素測(cè)試讀取相對(duì)差值變化率小于10%

測(cè)量精度:

1)精度(單層):

                              測(cè)厚儀的檢測(cè)精度表

Ni層厚度(um)

精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

    測(cè)試方法: 在相同的操作條件下,對(duì)同一標(biāo)準(zhǔn)樣板進(jìn)行5次檢測(cè),檢測(cè)到的平均數(shù)據(jù)與標(biāo)樣板的實(shí)際數(shù)據(jù)作比較。檢測(cè)精度為檢測(cè)平均值與標(biāo)準(zhǔn)樣片實(shí)際值之差(平均誤差)

2)兩層及以上:

  兩層及以上的首層精度符合單層的測(cè)試結(jié)果,但是第二層以上比較復(fù)雜,要根據(jù)上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時(shí),一層和二層的測(cè)試精度基本符合單層的精度,參照如下的測(cè)試報(bào)告 一層金標(biāo)樣厚度0.101um,第二層鎳的標(biāo)樣厚度為4.52um。

    一層厚度在2~5um時(shí)會(huì)大大降低第二層的和第三層的測(cè)試精度,第二層的誤差率會(huì)在5~10%,第三層的誤差率小于15%。

重復(fù)性:

保證重復(fù)性值:±5%

    重復(fù)性的檢測(cè)應(yīng)在儀器校準(zhǔn)后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測(cè)樣板做連續(xù)重復(fù)檢測(cè),連續(xù)測(cè)量必須在同一檢測(cè)點(diǎn)位置使用一同樣片間隔60秒,測(cè)量一共進(jìn)行10次,每次測(cè)量值與10次平均值進(jìn)行對(duì)比。

重復(fù)性=平均誤差÷平均值×100%.

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安全使用,維護(hù)與保養(yǎng)

由于儀器非常精密,未經(jīng)允許情況請(qǐng)不要打開儀器外殼,不要對(duì)X射線源和探測(cè)器進(jìn)行改變,由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負(fù)責(zé)任。

儀器安裝一定要平穩(wěn),儀器后面離墻距離不得小于30厘米,必須使用標(biāo)準(zhǔn)的220V交流電,電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源,插座必須接地良好,由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負(fù)責(zé)。

請(qǐng)不要用濕的手觸摸電源部分,帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。

進(jìn)行測(cè)量時(shí),因?yàn)楦唠妷毫髦罼射線源,儀器運(yùn)行時(shí),不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動(dòng)運(yùn)行或者遵循用戶指南中止。

儀器環(huán)境要求:儀器使用環(huán)境需清潔,溫度適宜15℃~30℃,濕度80%,電源:AC: 220V ±5V。

以上細(xì)節(jié)均有可能造成無法預(yù)測(cè)后果,買方應(yīng)予以基本遵守。



金屬表面鍍層測(cè)厚儀


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