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簡要描述:電鍍鍍金厚度檢測儀器 單層厚度范圍:金鍍層0-8um,鉻鍍層0-15um,其余一般為0-30um以內(nèi),可最小測量達0.001um。多層厚度范圍:Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30umCr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析
詳細介紹
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗、質(zhì)量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。
電鍍鍍金厚度檢測儀器
鍍層檢測:
2.1、常見金屬鍍層有:
鍍層 基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
2.2、單層厚度范圍:
金鍍層0-8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內(nèi),
可最小測量達0.001um。
2.3、多層厚度范圍
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、鍍層層數(shù)為1-6層
2.5、鍍層精度相對差值一般<5%。
2.6、鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
單層分析精度,以Ni舉例:(相對差值)
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢
鍍層檢測,檢測層數(shù)范圍1-5層;鍍層測量精度可達0.001μm。
全自動操作平臺,平臺尺寸80X2*75X2*90(X*Y*Z);
激光定位和自動多點測量功能;
檢測的樣品可以為固體、液體或粉末;
運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低;
可進行未知標樣掃描、無標樣定性、半定量分析;
操作簡單、精*無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速檢測(5-40秒依配置而定);
配置:SDD探測器、超長壽命X射線管、SPELLMAN高壓電源,儀器使用壽命長。
超高分辨率:125±5電子伏特(電子伏特越低分辨率越高,檢測越精*,這是能譜儀一個非常關(guān)鍵的技術(shù)指標);
可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件;
軟件免費升級;
無損檢測,一次性購買標樣可使用;
使用安心無憂,售后服務響應時間24H以內(nèi),提供保姆式服務;
具有遠程服務功能,在客戶請求的情況下,可遠程進行儀器維護;
(二)產(chǎn)品特征
高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)
Multi Ray. 運用基本參數(shù)法(FP)軟件,對樣品進行精*的鍍層厚度分析,可對鍍液進行定量分析。
MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄膜鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應 [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
Multi-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊??赏瑫r分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Multi-Ray 金屬行業(yè)精*定量分析軟件??赏瑫r分析8種元素。最小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達±0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt
Multi-Ray. 對鍍液進行分析。采用不同的數(shù)學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。
Multi-Ray WINDOWS 7軟件操作系統(tǒng)
完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標準差、 低/高讀數(shù),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等
8. 自動移動平臺,用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量,自動多點分析。每個階段的文件有達 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
硬件參數(shù):
X射線管:高穩(wěn)定性X射線管,使用壽命(工作時間>8,000小時)
微焦點x射線管
鈹窗口, 光斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和管流設定為應用程序提供好性能。
探測器:SDD探測器
能量分辨率:125±5eV
濾光片/可選
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
多準直器:0.2,0.3,0.5mm可選
測試點大?。簻手逼髅娣e的1.5倍
平臺:軟件程序控制步進式電機驅(qū)動X-Y-Z軸移動大樣品平臺。
激光定位、簡易荷載最大負載量為5公斤
軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量
樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能
6. 分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍:3mm x 3mm
- 放大倍數(shù):40X
- 射線方向:上照式
- 軟件控制取得高真圖像
8. 檢測厚度(正常指標):
- 原子序數(shù) 22 - 24 : 6 ~ 1000 微英寸
- 原子序數(shù) 25 - 40 : 4 ~ 1200 微英寸
- 原子序數(shù) 41 - 51 : 6 ~ 3000 微英寸
- 原子序數(shù) 52 - 82 : 2 ~ 500 微英寸
9. 計算機、打印機(贈送)
含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標
含Windows 7操作系統(tǒng)
Multi-Ray軟件
注:設備需要配備穩(wěn)壓電源,需另計。
2)、光譜儀軟件功能
軟件應用
- 單鍍層測量
- 線性層測量,如:薄膜測量
- 雙鍍層測量
- 針對合金可同時進行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測量。
- 無電鍍鎳測量
- 電鍍?nèi)芤簻y量
- 吸收模式的應用 DIN50987.1/ ISO3497-A2
- 勵磁模式的應用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本參數(shù)法目前是鍍層領域好解決方案。
2) 軟件標定方法
- 自動標定曲線進行多層分析
- 使用無標樣基本參數(shù)計算方法
- 使用標樣進行多點重復標定
- 標定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能
軟件校正功能:
- 基點校正(基線本底校正)
- 多材料基點校正,如:不銹鋼,黃銅,青銅等
- 密度校正
軟件測量功能:
- 快速開始測量
- 快速測量過程
- 自動測量條件設定(光管電流,濾光片,ROI)
5) 自動測量功能(軟件平臺)
- 同模式重復功能(可實現(xiàn)多點自動檢測)
- 確認測量位置 (具有圖形顯示功能)
- 測量開始點設定功能(每個文件中存儲原始數(shù)據(jù))
- 測量開始點存儲功能、打印數(shù)據(jù)
- 旋轉(zhuǎn)校正功能
- TSP應用
- 行掃描及格柵功能
6) 光譜測量功能
- 定性分析功能 (KLM 標記方法)
- 每個能量/通道元素ROI光標
- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能
- 光譜比較顯示功能:兩級顯示/疊加顯示/減法
- 標度擴充、縮小功能(強度、能量)
7) 數(shù)據(jù)處理功能
- 監(jiān)測統(tǒng)計值: 平均值、 標準偏差、 最大值。
- 最小值、測量范圍,N 編號、 Cp、 Cpk,
- 獨立曲線顯示測量結(jié)果。
- 自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件
8)其他功能
- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
- 獨立操作控制平臺
- 視頻參數(shù)調(diào)整
- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設連接
- Multi-Ray自動輸出檢測報告(HTML、Excel、PDF)
- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......
- 數(shù)據(jù)庫檢查程序
- 鍍層厚度測量程序保護。
儀器維修和調(diào)整功能
自動校準功能;
優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境;
自動校準過程中值增加、偏置量、強度、探測器分辨率,迭代法取決于峰位置、CPS、主X射線強度、輸入電壓、操作環(huán)境。
產(chǎn)品保修及售后服務
1. 協(xié)助做好安裝場地、環(huán)境的準備工作、指導并參與設備的安裝、測試、診斷及各項工作。
2. 對客戶方操作人員進行培訓。
3. 安裝、調(diào)試、驗收、培訓及技術(shù)服務均為免費,在用戶方現(xiàn)場對操作人員進行培訓。
4. 整機保修一年,終身維修,保修期從我司驗收合格后并正式投入使 用之日起計算。
5. 免費提供軟件升級
測量原理:能量色散X射線分析
u X射線光管:50KV,1mA
u 檢測系統(tǒng):Si-PIN探測器
u 檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92)
u 應用程序語言:中/英/韓
u 平臺尺寸:80X2*75X2*90
u 樣品類型:液體/固體/粉末
u 濾光片:多重濾光片自動轉(zhuǎn)換
u 能量分辨率:149±5eV
u 準直器:0.2,0.3,0.5mm可選
u 分析方法:FP/校準曲線
u 儀器尺寸:618*525*490(X*Y*Z)
● 工作溫度:15-30℃ ● 電 源:220VAC 60Hz
● 相對濕度:≤80% ● 功 率:150W
儀器主要組件
組件 | 描述 | 參數(shù) | 備注 |
直流電源 | 電壓 | 220V 50/60Hz | 中國臺灣產(chǎn) |
功率 | 550W | ||
X高壓電源 | 輸入電壓 | 24V | 美國產(chǎn) |
總功率 | 50W | ||
輸出電壓 | 0-50KV | ||
輸出電流 | 0-2mA | ||
X光管 | 管電壓 | 4-50KV | 美國產(chǎn) |
管電流 | 0-1mA | ||
功率 | 50W | ||
靶材 | Mo(鉬)、Rh(銠)(高配微焦鉬靶) | ||
探測器 | 類型 | 硅漂移SDD | 美國產(chǎn) |
冷卻方式 | 電子制冷 | ||
分辨率 | 125±5eV | ||
檢測面積 | 25mm2 | ||
Be窗 | 0.5mil(12.7um) | ||
準直器 | 直徑(mm) | 0.2,0.3,0.5,1,4,4mm | 自動切換 |
濾片 | 材料 | Ti,Al, Ni, Mo | |
攝像頭 | 分辨率 | 200萬像素 | |
控制系統(tǒng) | 計算機 | 具有USB接口的PC機 | 聯(lián)想商務機 |
CPU | 雙核2.8G | ||
內(nèi)存\硬盤 | 2G\500G | ||
控制板 | X光控制,機械動作控制 | 韓國產(chǎn) | |
外形尺寸 | 尺寸 | 618*525*490 | WxDxH |
重量 | 75Kg | ||
測試艙 | 平臺可移動范圍尺寸 | 160 *160* 100mm | |
樣品臺尺寸 | 250*225mm | ||
平臺最大負荷 | 5Kg | ||
工作距離 | 工作間隙 | 5mm | |
軟件 | 操作系統(tǒng) | windowXP,win7 | |
分析軟件 | MultiRay,F(xiàn)P算法 | 韓國/sense |
電鍍鍍金厚度檢測儀器
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