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簡要描述:電鍍分析儀X熒光電鍍儀器產(chǎn)品指標:測厚技術:X射線熒光測厚技術測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層測量下限:0.003um測量上限:30-50um(以材料元素判定)測量層數(shù):10層測量用時:30-120秒
詳細介紹
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環(huán)境保護、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。
電鍍分析儀
產(chǎn)品介紹:
新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用分辨率的Si-PIN或者SDD硅漂移探測器,測量精度和測量結果業(yè)界。
電鍍分析儀采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產(chǎn)過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
微移動平臺和清CCD搭配,旋鈕調節(jié)設計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業(yè)中品質的提升有了檢驗的保障。
產(chǎn)品指標:
測厚技術:X射線熒光測厚技術
測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測量下限:0.003um
測量上限:30-50um 以材料元素判定
測量層數(shù):10層
測量用時:30-120秒
探測器類型:Si-PIN電制冷
探測器分辨率:145eV
壓范圍:0-50Kv,50W
X光管參數(shù):0-50Kv,50W,側窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:3種自動切換;
CCD觀察:260萬像素
微移動范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測試環(huán)境:非真空條件
數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
準直器:?1mm,?2mm,?4mm
軟件方法:FlexFP-Mult
標準配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜:100張
保險管:3支
計算機主機:品牌+雙核
顯示屏:19吋液晶
打印機:噴墨打印機
應用:黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業(yè)。
產(chǎn)品咨詢
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