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簡(jiǎn)要描述:電鍍膜厚分析儀電鍍膜厚儀器采用分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測(cè)器),測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果業(yè)界。分析膜厚儀器設(shè)備 X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用,提了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無(wú)損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)。
產(chǎn)品分類
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我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長(zhǎng)色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(jì)(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測(cè)等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備)、塑料(無(wú)鹵測(cè)試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,化合物測(cè)試,電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。
電鍍膜厚分析儀
產(chǎn)品介紹:
新一代專業(yè)鍍層厚度檢測(cè)儀,采用分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測(cè)器),測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果業(yè)界。
采用了FlexFP-Multi技術(shù),無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制,還是來(lái)料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢,我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測(cè)的需求。
X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用,提了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無(wú)損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
產(chǎn)品指標(biāo):
測(cè)厚技術(shù):X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測(cè)量下限:0.003um
測(cè)量上限:30-50um(以材料元素判定)
測(cè)量層數(shù):10層
測(cè)量用時(shí):30-120秒
探測(cè)器類型:Si-PIN電制冷
探測(cè)器分辨率:145eV
壓范圍:0-50Kv,50W
X光管參數(shù):0-50Kv,50W,側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:3種自動(dòng)切換;
CCD觀察:260萬(wàn)像素
微移動(dòng)范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測(cè)試環(huán)境:非真空條件
數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
準(zhǔn)直器:?1mm,?2mm,?4mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義
樣品腔:330×360×100mm
標(biāo)準(zhǔn)配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜:100張
保險(xiǎn)管:3支
計(jì)算機(jī)主機(jī):品牌+雙核
顯示屏:19吋液晶
打印機(jī):噴墨打印機(jī)
可選配件
可升級(jí)為SDD探測(cè)器
可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)一鍵操作功能,準(zhǔn)直器自動(dòng)切換,濾光片自動(dòng)切換,開蓋隨意自動(dòng)停,樣品測(cè)試照片自動(dòng)拍照、自動(dòng)保存,測(cè)試報(bào)告自動(dòng)彈出,供應(yīng)商信息自動(dòng)篩選和保存
電鍍膜厚分析儀
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